得之前测试原子力显微镜AFM的时候，直接拿电池器件测试就行了，”许秋道：
“TEM的样品还需要特别准备吗？”
“AFM测试的是薄膜表面，TEM是透射，电子要穿透薄膜测试，因此不能有玻璃基底。”
“我明白了，就是要拿一层单独的薄膜去测试对吧。”
“没错，而且这个薄膜还厚度不能太厚，需要在微纳米级别，不然电子束无法穿透。”陈婉清道：
“不过我们有效层只有100纳米，倒是不用担心薄膜厚度的问题。”
该怎么制备TEM的样品呢？
许秋没有急着查看系统影像，或是求助学姐，而是自主分析起来：
之前在张疆做合成时，将聚合物材料溶于氯仿或甲苯中，然后滴入甲醇溶剂中，倒是能形成聚合物薄膜。
不过，那厚度应该有毫米级别了，显然不可取。
大概率还是要用到旋涂的方法，得到纳米级别的薄膜。
只是旋涂肯定要用到基底的，那么问题便转换为“怎么将薄膜和基底分离”。
加热？
用镊子戳？
用水泡？
超声？
许秋绞尽脑汁思考了半天，还是想不出有什么手段能无损分离。
还是不要重复造轮子，看看别人的轮子长什么样子吧。
启动系统影像。
这方法好啊，居然还可以这样。
第一百二十章 制样(2/5)